一、定義與核心原理

等離子刻蝕機(jī)(Plasma Etching Machine)是半導(dǎo)體制造、微納加工等領(lǐng)域的關(guān)鍵設(shè)備,用于通過等離子體化學(xué)反應(yīng)和物理轟擊,將掩膜圖形精確轉(zhuǎn)移到晶圓(硅片)或其他襯底材料表面,實(shí)現(xiàn)納米級尺寸的圖形刻蝕。其核心原理是:

 

· 等離子體產(chǎn)生:通過射頻(RF)、微波或電感耦合(ICP)等電源,使反應(yīng)氣體(如 CF?、Cl?、O?等)電離,形成包含離子、電子、自由基的等離子體。

· 刻蝕過程:

· 化學(xué)刻蝕:活性自由基與材料表面發(fā)生化學(xué)反應(yīng),生成易揮發(fā)產(chǎn)物(如 Si + 4F → SiF?↑)。

· 物理刻蝕:高能離子(如 Ar?)在電場作用下轟擊材料表面,通過濺射效應(yīng)去除原子層。

· 混合刻蝕:兩者結(jié)合,兼顧刻蝕速率與圖形精度。

二、分類與特點(diǎn)

根據(jù)等離子體產(chǎn)生方式、刻蝕機(jī)制及應(yīng)用場景,等離子刻蝕機(jī)可分為以下類型:

1. 按等離子體產(chǎn)生方式

· 射頻(RF)等離子刻蝕機(jī)

· 原理:通過射頻電源(通常 13.56MHz)激發(fā)平行板電極間的氣體產(chǎn)生等離子體。

· 特點(diǎn):結(jié)構(gòu)簡單、成本低,但刻蝕均勻性較差,適用于要求不高的場合(如 LED 制造)。

· 電感耦合等離子體(ICP)刻蝕機(jī)

· 原理:利用電感線圈產(chǎn)生強(qiáng)磁場,增強(qiáng)等離子體密度(可達(dá) 1011–1012 cm?3),獨(dú)立控制離子能量與濃度。

· 特點(diǎn):刻蝕速率快、均勻性好、損傷小,廣泛用于先進(jìn)制程(如 7nm 以下芯片)的導(dǎo)體 / 介質(zhì)刻蝕。

· 微波等離子刻蝕機(jī)

· 原理:通過微波(如 2.45GHz)激發(fā)氣體,產(chǎn)生高密度等離子體。

· 特點(diǎn):等離子體純度高、刻蝕選擇性好,適合高精密器件(如量子芯片、MEMS 傳感器)。

2. 按刻蝕機(jī)制

· 干法刻蝕

· 優(yōu)勢:刻蝕精度高(可達(dá)納米級)、污染少、適合復(fù)雜圖形,是半導(dǎo)體主流工藝。

· 應(yīng)用:芯片制造中的介質(zhì)層(SiO?)、金屬層(Al、Cu)、半導(dǎo)體層(Si、GaAs)刻蝕。

· 濕法刻蝕(非等離子體工藝,僅作對比)

· 原理:用化學(xué)溶液腐蝕材料,成本低但精度差(微米級),適用于簡單圖形(如分立器件)。

3. 按應(yīng)用領(lǐng)域

· 半導(dǎo)體制造:刻蝕晶體管、互連結(jié)構(gòu)、TSV(硅通孔)等。

· MEMS(微機(jī)電系統(tǒng)):刻蝕加速度計(jì)、陀螺儀的硅結(jié)構(gòu)。

· 光電子:刻蝕光波導(dǎo)、VCSEL(垂直腔面發(fā)射激光器)陣列。

· 柔性電子:刻蝕柔性襯底(如 PI、PET)上的電極圖案。

三、關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)與性能指標(biāo)

1. 刻蝕速率:單位時(shí)間內(nèi)材料去除厚度(如 nm/min),受氣體流量、功率、壓力等因素影響。

2. 刻蝕均勻性:晶圓表面刻蝕厚度的一致性(誤差<5% 為優(yōu)),影響芯片良率。

3. 刻蝕選擇性:目標(biāo)材料與掩膜材料的刻蝕速率比(如 SiO?刻蝕時(shí)對 Si 的選擇性>20:1),避免損傷底層材料。

4. 線寬偏差(CD Uniformity):刻蝕后圖形尺寸與設(shè)計(jì)值的偏差(先進(jìn)制程要求<3%)。

5. 等離子體損傷:高能離子對器件表面的物理 / 化學(xué)損傷(如界面態(tài)密度增加),需通過低能量離子工藝(如脈沖等離子體)抑制。

四、核心部件與工作流程

1. 核心部件

· 反應(yīng)腔室:采用石英或鋁材質(zhì),需耐腐蝕性氣體(如 NF?)和高溫。

· 射頻電源:提供能量激發(fā)等離子體,先進(jìn)設(shè)備支持多頻電源(如低頻 + 高頻組合)。

· 氣體供應(yīng)系統(tǒng):精確控制反應(yīng)氣體(如 CF?、CHF?、HBr)和吹掃氣體(N?、Ar)的流量與比例。

· 真空系統(tǒng):維持腔室低氣壓(1–100Pa),確保等離子體穩(wěn)定存在。

· 溫控系統(tǒng):控制晶圓溫度(如–100℃~200℃),調(diào)節(jié)化學(xué)反應(yīng)速率與離子轟擊能量。

2. 典型工作流程

1. 晶圓裝載:通過機(jī)械手將涂覆光刻膠的晶圓送入腔室。

2. 等離子體激發(fā):通入反應(yīng)氣體,開啟射頻電源產(chǎn)生等離子體。

3. 刻蝕過程:

· 化學(xué)刻蝕:自由基與材料反應(yīng)生成揮發(fā)性產(chǎn)物(如 Si 刻蝕生成 SiF?)。

· 物理刻蝕:離子轟擊去除材料,形成垂直側(cè)壁。

4. 刻蝕終點(diǎn)檢測:通過光發(fā)射光譜(OES)實(shí)時(shí)監(jiān)測,刻穿目標(biāo)層時(shí)自動停止。

5. 晶圓卸載與清洗:去除殘留光刻膠(如用 O?等離子體灰化),進(jìn)入下一工序。

總結(jié):等離子刻蝕機(jī)是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈的 “心臟設(shè)備”,其技術(shù)水平直接決定芯片制程的先進(jìn)性。隨著摩爾定律逼近物理極限,刻蝕技術(shù)正從 “圖形轉(zhuǎn)移工具” 演變?yōu)?“原子級材料工程平臺”,推動半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)向三維集成、異構(gòu)計(jì)算等新范式突破。